C. Pérez González, A. Fernández Rodríguez, V. Giner Bosch, A. Carrión García
Este trabajo propone el diseño de planes óptimos de muestreo con datos censurados en la inspección repetitiva de lotes de productos. Estos planes minimizan el tamaño muestral esperado utilizando información a priori. En particular, en la obtención de dichos planes se asumen modelos de tiempo de vida de la familia de distribuciones de log-localización-escala y, además, se considera que la proporción $p$ de unidades defectuosas en el lote sigue una distribución beta limitada. Los planes repetitivos convencionales permiten reducir el esfuerzo muestral con respecto a otros esquemas de inspección pero los tamaños muestrales pueden aumentar sobre todo con censura alta. La incorporación de información a priori y el uso de riesgos esperados puede ayudar a reducir de forma significativa los costes y la duración de la inspección. Se presentan varios gráficos y tablas para ilustrar cómo el esquema de inspección propuesto mejora los planes repetitivos tradicionales.
Palabras clave: riesgos esperados del productor y consumidor, tamaño muestral promedio esperado, modelos de log-localización-escala para el tiempo de vida, distribución a priori beta limitada
Programado
Fiabilidad y Control de Calidad I
8 de junio de 2022 12:40
A23
